ГОСТ Стандарт

ГОСТ 25024.4-85

Индикаторы знакосинтезирующие. Методы измерения яркости, силы света, неравномерности яркости и неравномерности силы света

1 687 переглядів

Завантажити документ

Формат .docx · доступно зареєстрованим користувачам

Увійти та завантажити

Текст документа

ИНДИКАТОРЫ

ЗНАКОСИНТЕЗИРУЮЩИЕ

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ЯРКОСТИ, СИЛЫ СВЕТА

НЕРАВНОМЕРНОСТИ ЯРКОСТИ И НЕРАВНОМЕРНОСТИ

СИЛЫ СВЕТА

ГОСТ 25024.4-85

(СТ СЭВ 3788-82)

Издание официальное

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ИНДИКАТОРЫ ЗНАКОСИНТЕЗИРУЮЩИЕ

Методы измерения яркости, силы света,
неравномерности яркости и неравномерности
Character displays. Methods measuring brightness,
luminous intensity, irregularity of brightness and
irregularity of luminous intensity

ГОСТ 19834.1—74

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 24 мая 1985 г. № 1461 срок действия установлен
с 01.07.86
для газоразрядных индикаторов
Несоблюдение стандарта преследуется по закону
Настоящий стандарт распространяется на активные знакосин­тезирующие индикаторы (далее — индикаторы) и устанавливает следующие методы измерения яркости и силы света: метод, осно­ванный на измерении освещенности, создаваемой излучением ин­дикатора (элемента отображения); метод, основанный на измере­нии освещенности, создаваемой оптическим изображением инди­катора (элемента отображения); метод, основанный на замещении индикатора (элемента отображения) образцовым, а также метод измерения неравномерности яркости и неравномерности силы све­та,
Метод измерения по освещенности от индикаторов и метод измерения по освещенности от оптического изображения индика­тора применяют при проведении измерений повышенной точно­сти.
Метод замещения — при проведении измерений с высокой про­изводительностью.
Стандарт соответствует требованиям СТ СЭВ 3788—82 в части измерения яркости и силы света полупроводниковых ЗСИ (см. справочное приложение 1).
Перепечатка воспрещена
© Издательство стандартов, 1985
Общие требования при измерении и требования безопасности— по ГОСТ 25024.0—83.
Термины и определения — по ГОСТ 25066—81.

1. ПРИНЦИП ИЗМЕРЕНИЯ И ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

1.1. Принцип измерения параметров индикаторов основан на измерении светового потока, излучаемого индикатором в направ­лении его геометрической оси, фотоприемным устройством, скор- ригированным под кривую относительной спектральной световой эффективности монохроматического излучения для дневного зре­ния по ГОСТ 8.332—78.
1.2. Измерения проводят в условиях, соответствующих требо ваниям ГОСТ 20.57.406—81, при температуре окружающей среды (25±5)°С и других внешних воздействиях, указанных в стандар­тах или технических условиях (далее — ТУ) на индикаторы кон­кретных типов.

ось ФПУ и геометрическая ось индикатора (нормаль к информа­ционному полю индикатора)
Черт. 1
1.3. Электрический режим индикатора должен соответствовать установленному в стандартах или ТУ на индикаторы конкретных типов.
1.4. Измерения параметров проводят на установ­ке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 1.
1.4.1. Блок установления электрического режима G должен обеспечивать установление и поддержание электрических режи­мов индикатора с точностью, при которой погрешность не должна выходить за пределы, установленные ГОСТ 25024.0—83.
Нестабильность источника постоянного тока, питающего ин­дикатор, не должна выходить за пределы ±1 %. Коэффициент пульсаций должен быть в пределах ±1 %.
1.4.2. Измерения при переменном и импульсном токах следует
проводить с учетом быстродействия фотоприемного устройства ФПУ и инерционности индикатора. Погрешность измерения за счет влияния быстродействия ФПУ и инерционности не должна выхо­дить за пределы ±1 %.
1.4.3. Подключающее устройство ПУ должно обеспечивать на­дежный электрический контакт индикатора с блоком установления электрического режима, а также однозначную фиксацию индикато­ра в пространстве относительно ФПУ.
Фиксацию индикатора в пространстве считают удовлетвори­тельной, если при повторной установке индикатора в ПУ измене­ние результата измерения одного и того же элемента отображе­ния (элементов отображения) индикатора не выходит за преде­лы ±2 %.
1.4.4. ФПУ должно удовлетворять следующим требованиям.
1.4.4.1. Относительная спектральная чувствительность ФПУ— по ГОСТ 25024.0—83.
Погрешность корригирования не должна выходить за пределы: ±5 % —диапазон длин волн 440—680 нм;
±10% — диапазон длин волн 390—440 нм и 680—760 нм.
Методика проверки относительной спектральной чувствитель­ности приемников излучения ФПУ на соответствие требованиям ГОСТ 25024.0—83 приведена в обязательном приложении 2.
Перечень рекомендуемых приемников излучения для ФПУ при­веден в справочном приложении 3.
Если в ФПУ используют твердотельные фотоэлементы, то про­
верку их утомляемости проводят в соответствии со справочным приложением 4.
1.4.4.2. Допускается в ФПУ использовать приемники излучения, скорригированные только в диапазоне длин волн, соответствую­щем спектральному составу излучения индикатора с учетом раз­броса в ширине спектра излучения индикаторов, устанавливаемого ТУ на индикаторы конкретных типов. При этом погрешность кор­ригирования не должна выходить за пределы, установленные п. 1.4.4.1.
1.4.4.3. Абсолютная интегральная чувствительность ФПУ в диапазоне измеряемых значений параметров индикаторов должна быть известна с точностью, при которой погрешность не должна выходить за пределы ±5%. Проверку абсолютной интегральной чувствительности ФПУ проводят по методике, изложенной в обя­зательном приложении 5.
1.4.4.4. Нелинейность интегральной чувствительности ФПУ в диапазоне измеряемых значений параметров индикатора с учетом засветки от внешних источников света не должна выходить за пределы ±2%. Методика проверки линейности интегральной чув­ствительности ФПУ приведена в обязательном приложении 6.
1.4.4.5. В измерительных установках на основе фотоумножите­лей, вакуумных или твердотельных фотоэлементов для устранения влияния пространственной неоднородности и угловой неравно­мерности фоточувствительности ФПУ на результаты измерения следует использовать светофильтры с диффузным пропусканием» При этом коэффициент пропускания в диапазоне длин волн излу­чения индикатора должен быть постоянен или его изменение не выходит за пределы ±3 %.
1.4.4.6. Светофильтры с диффузным пропусканием устанавли-
вают непосредственно перед фоточувствительной поверхностью ФПУ и проверку абсолютной интегральной чувствительности ФПУ в соответствии с требованиями п. 1.4.4.3 проводят вместе ей свето-
рильтром.
Рекомендуемый перечень светофильтров приведен в справоч­ном приложении 7.
1.4.4.7. Для расширения динамического диапазона измеритель-
ных установок следует использовать оптические светофильтры, ко­эффициент пропускания которых в диапазоне длин волн излуче-
ния индикаторов постоянен или его изменение не выходит за пре­делы ±3%. Проверку неселективности коэффициентов пропуска­ния используемых светофильтров (пп. 1.4.4.5 и 1.4.4.6) проводят по методике, изложенной в обязательном приложении 8.
1.4.5. Измерение параметров индикаторов проводят в отсутст­вии засветки ФПУ от внешних и внутренних источников света. Допускается проводить измерения при любых условиях внешней засветки, если будут приняты меры (инструментальные или Дру­гие) исключающие влияние внешней засветки ФПУ на результаты измерения таким образом, чтобы изменение результатов измере­ний не выходило за пределы ±2 %.
1.4.6. Прибор для измерения фототока Р должен обеспечивать регистрацию электрического сигнала в цепи ФПУ с точностью, при которой погрешность не выходит за пределы ±3%.
При этом прибор Р может быть выполнен по любой схеме, включая схему с компенсацией фототока в цепи ФПУ, которая приведена в обязательном приложении 9.
Рекомендуется использовать автоматизированные средства из­мерения и обработки электрического сигнала ФПУ и ЭВМ.
1.4.7. При использовании того или иного метода измерения параметров индикатора допускаются иные значения составляю­щих погрешностей, при этом значение суммарной погрешности не должно выходить за пределы установленные настоящим стандар­том для конкретного метода.
1.4.8. Оптическая схема измерения параметров индикаторов приведена для каждого конкретного метода измерения в соответ­ствующем разделе настоящего стандарта.

2. МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ СИЛЫ СВЕТА И ЯРКОСТИ, ОСНОВАННЫЙ

НА ИЗМЕРЕНИИ ОСВЕЩЕННОСТИ, СОЗДАВАЕМОЙ

ИЗЛУЧЕНИЕМ ИНДИКАТОРА (ЭЛЕМЕНТА ОТОБРАЖЕНИЯ)

2.1. Метод основан на измерении освещенности, создаваемой излучением индикатора в плоскости апертурной диафрагмы или фоточувствительной поверхности приемника излучения.
2.2. Аппаратура
2.2.1. Измерения проводят на установке, электрическая струк­турная схема которой приведена на черт. 1.
2.2.2. Оптическая схема - измерений должна соответствовать представленной на черт. 2.

ная диафрагма диаметром D„„ и площадью А al 1 аП
диафрагмы диаметром Dx и Ф—фоточувствительная поверхность при­
емника излучения ФПУ диаметром £>о и площадью Дф; СЮ—оптическая ось ФПУ и геометрическая ось индикатора (нормаль к информационному полю индикатора); 1(h) — расстояние от излучающей поверхности элементов отображения индикатора до апертурной диафрагмы или фоточувствительной поверхности ФПУ (м); и 12—расстояния от излучающей поверхности эле­ментов отображения индикатора до защитных диафрагм (м); К—светоза­щитная камера; О—телесный угол; А—наибольший линейный размер эле­мента отображения индикатора (информационного поля)
Черт. 2
Допускается не использовать апертурные диафрагмы при создании измерительных установок, если в ФПУ применяют полу­проводниковые твердотельные приемники излучения с фоточувст­вительной поверхностью круглой формы. В этом случае принима­ю
т
2.2.3.
2.2.4. Относительная турной диафрагмы Dan

ности приемника излучения Dq не должна выходить за пределы ±2% при Dan мм или ±5% при 0,1<Ьап (£>0)<1 мм.
2.2.5. Для измерения параметров индикаторов при внешней засветке индикатор и ФПУ помещают в защитную камеру К в
которой для устранения влияния многократных отражений излуче­ния индикатора на результаты измерений должны быть исполь­зованы защитные диафрагмы, с апертурой, не ограничивающей телесный угол ФПУ, т. е. диаметры защитных диафрагм должны быть выбраны из соотношения:

2.2.6. При питании индикаторов переменным или импульсным
током в измерительных установках на основе твердотельных при­
емников из