ГОСТ 28578-90
ГОСТ 28578-90 регламентує методи механічних та кліматичних випробувань для напівпровідникових приладів та інтегральних схем. Документ встановлює уніфіковані процедури оцінки впливу зовнішніх чинників на якість та надійність електронної продукції.
Контролювати безпеку персоналу при роботі з випробувальним обладнанням (термобарокамери, вібростенди) та забезпечити наявність інструкцій з ОП для специфічних фізичних впливів.
Download document
.docx format · available to registered users
Издание официальное
Москв
а
ґ*
1. Официальные решения или соглашения МЭК по техническим вопросам, подготовленные техническими комитетами, в которых представлены все заинтересованные национальные комитеты, выражают с возможной точностью международную согласованную точку зрения по рассматриваемым вопросам.
2. Эти решения представляют собой рекомендации для международного пользования и в этом виде принимаются национальными комитетами.
3. В целях содействия международной унификации МЭК выражает пожелание, чтобы все национальные комитеты приняли настоящий стандарт МЭК в качестве своего национального стандарта, насколько это позволяют условия каждой страны. Любое расхождение со стандартом МЭК должно быть четко указано в соответствующих национальных стандартах.
Стандарт МЭК 749—84 подготовлен Техническим комитетом МЭК 47 «Полупроводниковые приборы».
Публикация МЭК 749 представляет собой общий стандарт на механические и климатические испытания, применяемые к дискретным приборам и интегральным схемам.
На совещании в Лондоне в сентябре 1982 г. Технический комитет МЭК 47 одобрил переиздание Публикаций МЭК 147 и МЭК 148 на основе нового принципа в зависимости от вида рассматриваемого прибора. Поскольку все части, составляющие настоящую публикацию, были в свое время утверждены по Правилу шести или двух месяцев, дополнительное голосование было признано нецелесообразным.
Сведения относительно дискретных приборов и интегральных схем, содержащиеся в Публикациях ААЭК 147 и МЭК 148, включены в Публикацию МЭК 747 и МЭК 748.
Сведения относительно механических и климатических испытаний ранее содержащиеся в Публикациях МЭК 147—5 и МЭК 147—5А, включены в Публикацию МЭК 749.
Соответствие данного стандарта современному уровню техники будет обеспечиваться путем пересмотра и дополнения его, по мере дальнейшей работы технического комитета МЭК 47, с учетом последних достижений в области полупроводниковых приборов.
Примечание. Публикации МЭК 747 и МЭК 748 аннулируют и заменяют, по мере издания их отдельных частей, Публикации МЭК 147 и МЭК 148.
9—2044 1
Настоящая публикация заменяет Публикацию МЭК Н7—5 и МЭК 14-7—5 А.
Таблица соответствия новых и прежних пунктов
Механические и климатические испытания
Semiconductor devices.
Mechanical and climatic test methods
Дата введения с 01.01.9!
Настоящий стандарт устанавливает методы испытаний, применяемые к полупроводниковым приборам (дискретным приборам и интегральным схемам). Для приборов без внутренних полостей могут потребоваться дополнительные методы испытаний.
Примечание. Прибор без внутренней полости — это прибор, в котором герметизирующий материал непосредственно контактирует со всеми внешнитии поверхностями активного элемента и при изготовлении которого заполняется все внутреннее свободное пространство.
В настоящем стандарте, по возможности, учтены требования СТ МЭК 68 (ГОСТ 28198—ГОСТ 28236).
Установление единых методов испытаний с предпочтительными значениями уровней нагрузки для оценки степени воздействия внешних факторов на полупроводниковые приборы.
В случае противоречия между настоящим стандартом и соответствующей нормативно-технической документацией (НТД) предпочтение отдается последней.
Ссылки делаются на СТ МЭК 68 (ГОСТ 28198—ГОСТ 28236), СТ МЭК 7471 и СТ МЭК 748*.
Ссылка: СТ МЭК 68—1 (ГОСТ 28198).
Если не оговорено иное, все выдержки и восстановления проводятся при нормальных атмосферных условиях испытания, как указано в СТ МЭК 68—1, п. 5.3 (ГОСТ 28198, п. 5.3):
температура от 15 до 35°С;
относительная влажность от 45 до 75%, в случае необходимости; атмосферное давление от 86 до 106 кПа (860—1060 мбар). При этом все электрические измерения, а также восстановление с последующими измерениями выполняют при следующих атмосферных условиях:
температура (25±5)°С;
относительная влажность от 45 до 75%, в случае необходимости;
атмосферное давление от 86 до 106 кПа (860—1060 мбар).
Арбитражные испытания проводят при следующих нормальных атмосферных условиях:
температура (25±1)°С;
относительная влажность от 48 до 52%;
атмосферное давление от 86 до 106 кПа (860—1060 мбар).
Измерения следует проводить только после достижения образцами температурного равновесия. Температура окружающей среды во время измерений должна быть указана в протоколе испытания.
При проведении измерений образцы не должны подвергаться воздействию сквозняков, освещения или другим воздействиям, которые могут привести к погрешности измерения.
5.1. Внешний осмотр должен включать:
a) проверку правильности и стойкости маркировки (метод испытания находится на рассмотрении); 1
b) обнаружение повреждений корпуса и выводов;
c) проверку внешнего вида корпуса и выводов.
5.2. Должны быть проверены размеры, указанные в соответствующей НТД.
5.3. Если не оговорено иное, внешний осмотр проводят при 3- и 10-кратном увеличении в зависимости от размера прибора.
6.1. При испытаниях на воздействие внешних факторов измеряемые характеристики следует выбирать из главы «Приемка и надежность» соответствующей части СТ МЭК 747 или СТ
МЭК 748. Эти характеристики указывают для каждой категории приборов.
6.2. Условия измерений — см. таблицу «Условия испытаий» на срок службы», приведенную в главе «Приемка и надежность» соответствующей части СТ МЭК 747 или СТ МЭК 748.
6.3. Первоначальные измерения
Если в качестве критерия указывают только верхнее и (или) нижнее предельные значения, то первоначальные измерения проводят по усмотрению изготовителя. Их проводят в том случае, если в качестве критерия используется первоначальное показание конкретного прибора.
6.4. Измерения, проводимые во время испытания на воздействие внешних факторов <
Указываются при необходимости.
6.5. Заключительные измерения
Если в соответствующей НТД указано, что испытание входит в последовательность (подгруппу) испытаний, то измерения проводят только по окончании всех испытаний, составляющих данную последовательность. Для некоторых испытаний, таких как испытание на паяемость или на усталость выводов, можно использовать приборы с электрическими дефектами.
Выбор соответствующих испытаний зависит от типа приборов и корпуса. Необходимые испытания должны быть указаны в соответствующей НТД.
1. ПРОЧНОСТЬ выводов
Ссылка: СТ МЭК 68-2-21 (ГОСТ 28212).
1.1. Растяжение
Это испытание соответствует испытанию Ua! с учетом следующих требований.
После испытания проводят осмотр при 3— 10-кратном увеличении.
Прибор бракуют, если обнаружена трещина (кроме трещин в области мениска), ослабление соединения или смещение вывода относительно корпуса приборов в месте его крепления.
1.2. Изгиб
Это испытание соответствует испытанию Ub с учетом следующих требований:
в п. 4.2 метод 2 рекомендуется использовать только для ДИП- корпусов и подобных им корпусов, конфигурация которых затрудняет или делает невозможным использование метода 1.
1.3. Скручивание
Это испытание соответствует испытанию Uc с учетом следующих требований.
Методика
Используются либо метод А (степень жесткости 2) либо метод В.
Критерии отказа
Прибор считают отказавшим, если после снятия нагрузки при 10—20-кратном увеличении обнаружена трещина (кроме трещин в области мениска), ослабление соединения или смещение вывода относительно корпуса прибора в месте его крепления.
1.4. Крутящий момент
1.4.1. Испытание выводов в виде винта на воздействие крутящего момента
Данное испытание соответствует испытанию Ud с учетом следующих требований.
Прибор считают отказавшим в следующих случаях:
поломки или удлинения винта более чем ^на половину шага резьбы;
срыва резьбы или деформации установочной плоскости;
когда после испытания электрические параметры прибора не соответствуют требованиям соответствующей НТД, если такие измерения проводят.
1.4.2. Испытание выводов на, воздействие крутящего момента. Новое испытание Ud2
1.4.2.1. Цель
Определение способности выводов выдерживать скручивание, которому они могут подвергаться в процессе проверки или эксплуатации после установки в аппаратуру.
1.4.2.2. Метод испытания
Образец жестко закрепляют, к испытываемому выводу медленно прикладывают крутящий момент до тех пор, пока угол скручивания не будет равен (30±10)° или величина крутящего момента не достигнет заданного значения в зависимости от того, какое условие будет выполнено скорее.
Затем вывод возвращается в первоначальное положение. Кру* тящий момент, равный (1,4 Х'10~2 ±1,4X4 0~3) Н- м, прикладывают к выводу на расстоянии (3,0±0,5) мм от корпуса прибора или в пределах 1 мм от конца вывода, если он короче 3 мм.
Выводы подвергают воздействию крутящего момента в каждом направлении.
Если прибор имеет выводы, изогнутые близко к корпусу, то крутящий момент прикладывают на расстоянии (3,0±0,5) мм от точки изгиба вывода.
1.4.2.3. Заключительные измерения
После испытания следует провести осмотр при 3— 10-кратном увеличении. Прибор бракуется, если обнаружена трещина вывода, ослабление соединения или смещение вывода относительно корпуса в месте его крепления.
1.4.2.4. Сведения, которые должны быть указаны в соответствующей НТД
Принцип выбора и количество выводов, подвергаемых испытанию.
Ссылка: СТ МЭК 68-2-20 (ГОСТ 28211).
2.1. Паяемость
Это испытание должно соответствовать испытанию Та с учетом следующих требований.
При использовании метода 1.
Выводы подвергают испытанию методом паяльной ванны. Выводы погружают в ванну на 1,5 мм от установочной плоскости прибора или на другое расстояние, установленное в соответствующей НТД.
Примечание. Если глубина погружения от установо
