ГОСТ Стандарт

ГОСТ 29071-91

Постоянные резисторы для электронной аппаратуры. Часть 8. Групповые технические условия на постоянные чип-резисторы

1 158 views

Download document

.docx format · available to registered users

Sign in and download

Document text

СТАНДАРТ

СОЮЗА ССР

ПОСТОЯННЫЕ РЕЗИСТОРЫ

ДЛЯ ЭЛЕКТРОННОЙ АППАРАТУРЫ

ЧАСТЬ 8

ГРУППОВЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ УСЛОВИЯ

НА ПОСТОЯННЫЕ ЧИП*РЕЗИСТОРЫ

ГОСТ 29071-91

(СТ МЭК 115-8-89)

Издание официальное

КОМИТЕТ СТАНДАРТИЗАЦИИ И МЕТРОЛОГИИ СССР

Москва

УДК 621.316.862.006.354 Группа Э2І

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ПОСТОЯННЫЕ РЕЗИСТОРЫ ДЛЯ

ЭЛЕКТРОННОЙ АППАРАТУРЫ

Часть 8
Групповые технические условия на
постоянные чип-резисторы
Fixed resistors for use in electronic equipment.
Part 8. Sectional specification:
fixed chip resistors
ОКП 600000
Дата введения 01.07.92

РАЗДЕЛ I. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

1. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

1.1. Область применения
Настоящий стандарт распространяется на постоянные чип- резисторы для электронной аппаратуры. Данный государствен­ный стандарт применяется для разработки ТУ на резисторы, в том числе подлежащие сертификации.
1.2. Цель
Установление предпочтительных номинальных величин и ха­рактеристик; выбор из ГОСТ 28608 соответствующих методик про­ведения сертификации, испытаний и методов измерения, установ­ление общих требований к резисторам данного типа.
Жесткости испытаний и требования, установленные в техничес­ких условиях (ТУ) на чип-резисторы конкретных типов, относя­щихся к данным групповым ТУ, должны быть равного или более высокого порядка, т. к. снижение уровня жесткостей и требований не допускается.
1.3. Ссылочные документы
ГОСТ 28884 Ряды предпочтительных величин для резисто­
ров и конденсаторов.
Поправка № 1 (1967).
Поправка № 2 (1977).
Издание официальное
© Издательство стандартов, 1991
Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен,
тиражирован и распространен без разрешения Госстандарта СССР
Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов.
Постоянные резисторы для электронной ап­паратуры. Часть 1. Общие технические усло-
ВИЯ.
Поправка № 2 (1987).
Поправка № 3 (1989).
Правила и планы выборочного контроля по качественным признакам.
Основные правила Системы сертификации из­делий электронной техники МЭК (МСС ИЭТ). Правила процедуры Системы сертификации изделий электронной техники МЭК (МСС ИЭТ).
Вышеуказанные документы являются текущими издания- ГОСТ 28198, їв качестве которого следует использовать
1.4. Данные, которые следует приводить в ТУ на чип-резисторы конкретных типов.
ТУ на чип-резисторы конкретных типов должны быть состав­лены на основе соответствующей формы ТУ на чип-резисторы конкретных типов. В ТУ на чип-резисторы конкретных типов не должно содержаться требований менее жестких, чем в ОТУ, груп­повых ТУ или форме ТУ на чип-резисторы конкретных типов. Ес­ли включены более жесткие требования, то они должны быть перечислены в п. 1.8 ТУ на чип-резисторы конкретных типов и отмечены в программе испытаний, например, звездочкой.
Примечание. Данные, приведенные в пп. 1.4.1 и 1.4.3, могут быть представлены в виде таблицы, и
В каждых ТУ на чип-резисторы конкретных типов должны быть приведены нижеследующие данные, при этом указанные значения величин предпочтительно выбирают из приведенных в соответствующем пункте данных групповых ТУ.
1.4.1. Габаритный чертеж и размеры
1.4.2.
Должен быть приведен чертеж чип-резистора для сравнения его с другими чип-резисторами. В ТУ на чип-резисторы конкрет­ных типов должны быть приведены размеры и их допускаемые отклонения, которые влияют на взаимозаменяемость и крепление. Все размеры должны быть указаны в миллиметрах, если исход­ные размеры приведены в дюймах, следует дополнительно ука­зать их значения в миллиметрах. Следует приводить числовые значения длины, ширины и высоты корпуса, а для цилиндрических типов — числовые значения диаметра корпуса. Если ТУ на чип- резисторы конкретных типов распространяются на чип-резисторы с несколькими значениями мощности рассеяния, то размеры и их допускаемые отклонения следует приводить в таблице под черте­жом.
Если конфигурация чип-резистор а отличается от указанной выше, то в ТУ на чип-резисторы конкретных типов должны быть приведены размеры, дающие адекватное описание чип-резистора.
1.4.3. Крепление
В ТУ на чип-резисторы конкретных типов должны быть указа­ны методы крепления при обычной эксплуатации. Крепление при испытаниях и измерениях (при необходимости) должно соответ­ствовать п. 4.31 ГОСТ 28608
1.4.4. Вид
См. п. 2.3.3 ГОСТ 28608.
Предпочтительны следующие виды:
а) Вид RC (чип-резисторы цилиндрической формы):
Внешний диаметр
D, мм
2,3 макс
1,5 макс
в) Вид RR (чип-резисторы прямоугольной формы)

1.4.5. Номинальные значения и характеристики
Номинальные значения и характеристики должны соответство­вать соответствующим пунктам настоящего стандарта с учетом следующего:
1.4.5.1. Диапазон значений номинального соп­ротивления
1 См. п. 2.2.1. Предпочтительными являются значения ряда Е ГОСТ 28884.
Примечание. Если изделия, на которые распространяются ТУ на чип- резисторы конкретных типов, имеют разные диапазоны значений, то необходи­мо добавить следующее: «Диапазон значений для каждого вида изделий при­веден в Перечне сертифицированных изделий.
1.4.6. Маркировка
В ТУ на чип-резисторы конкретных типов должно быть приве­дено содержание маркировки на чип-резисторе и упаковке. Обыч­но чип-резисторы не имеют маркировку на корпусе. Если имеется возможность нанести какую-нибудь маркировку на корпус, то четко маркируется номинальное сопротивление и, по возможности, данные п. 2.4 ГОСТ 28608. На упаковке маркируются данные всех пунктов. Должны быть указаны отступления от вышеуказан­ных требований.

РАЗДЕЛ II. ПРЕДПОЧТИТЕЛЬНЫЕ НОМИНАЛЬНЫЕ

ЗНАЧЕНИЯ,ХАРАКТЕРИСТИКИ И

ЖЕСТКОСТИ ИСПЫТАНИЙ

2. ПРЕДПОЧТИТЕЛЬНЫЕ НОМИНАЛЬНЫЕ ЗНАЧЕНИЯ, ХАРАКТЕРИСТИКИ И ЖЕСТКОСТИ ИСПЫТАНИЙ

2.1. Предпочтительные характеристики
Величины, приведенные в ТУ на чип-резисторы конкретных типов, должны предпочтительно выбираться из следующего:
2.1.1. Предпочтительные климатические категории
Чип-резисторы, на которые распространяются данные ТУ, классифицируют по климатическим категориям в соответствии с общими правилами, приведенными в ГОСТ 28198. Нижнюю и верхнюю температуры категории, продолжительность испытания на влажное тепло, постоянный режим выбирают из следующего: нижняя температура категории: минус 55, минус 40, минус 25 °С;
верхняя температура категории:
плюс 85, плюс 100, плюс 125, плюс 155 °С;
продолжительность испытания на влажное тепло, постоянный режим:
4, 10, 21 и 56 сут.
Жесткостями испытаний на холод и сухое тепло являются нижняя и верхняя температуры категории соответственно. У чип- резисторов некоторых конструкций эти температуры могут нахо­диться между двумя предпочтительными температурами, приве­денными в ГОСТ 28199. В этом случае для данной жесткости следует выбирать ближайшую предпочтительную температуру в пределах действительного диапазона температур.
2.1.2. Температурные коэффициенты и температурные характе­ристики сопротивления
Предпочтительные предельные значения изменения сопротивле­ния приведены в табл. 1. Каждая строка таблицы дает предпоч­тительный температурный коэффициент и соответствующую тем­пературную характеристику для 20°С—70°С, а также предельные значения изменения сопротивления при измерении температурной характеристики сопротивления (см. п. 4.8 ГОСТ 28608) в преде­лах диапазона температур категории, приведенных в п. 2.1.1 нас­тоящих групповых ТУ.

2.1.3. Предельные значения изменения сопротивления
Для каждой категории стабильности предпочтительные пре­дельные значения изменения сопротивления для каждого испыта­ния, приведенного в табл. 2, должны соответствовать указанным в этой таблице.
Примечание. Номера пунктов испытаний в табл. 2 — по ГОСТ 28603.
Таблица 2
Кратковременные испытания
2.2. .Предпочтительные номинальные значе­ния
2.2.1. Номинальное сопротивление
См. п. 2.2.7 ГОСТ 28608.
2.2.2. Допускаемое отклонение сопротивления
Предпочтительными значениями допускаемого отклонения соп­ротивления от номинального являются:
±10, ±5, ±2, ±1, ±0,5, ±0,25, ±0,1%.
2.2.3. Номинальная мощность рассеяния (во вмонтированном состоянии)
Предпочтительными значениями номинальной мощности рас­сеяния Р при 70°С являются: 0,03, 0,063, 0,125, 0,25, 0,5, 1 и 2 Вт. При температуре выше 70 °С мощность рассеяния снижается, как указано на следующем графике.
В ТУ на чип-резисторы конкретных типов может быть приве­дена большая зона эксплуатации, если она включает всю приве­денную выше зону. В этом случае в ТУ на чип-резисторы конкрет­ных типов должна быть указана максимально допустимая мощ­ность рассеяния при температурах, отличных от 70 °С. Все харак­терные точки на графике проверяют испытанием.
2.2.4. Предельное рабочее напряжение
Предпочтительными значениями предельного рабочего напря­жения являются следующие значения напряжения постоянного

2.3. Предпочтительные жесткости испытаний Жесткости испытаний, приведенные в ТУ на чип-резистор ы конкретных типов, должны предпочтительно выбираться из сле­дующего:
2.3.1. Сушка
Используется методика 1 п. 4.3 ГОСТ 128608.
2.3.2. Перегрузка (в смонтированном состоянии)
См. п. 4.13 ГОСТ 28608 с учетом следующего: подаваемое нап­ряжение в 2,5 раза больше номинального напряжения или удвоен­ное предельное рабочее напряжение (выбирается меньшая вели­чина) ;
продолжительность: 2 с;
материал подложки: слоистый материал на основе стеклотка­ни, пропитанный эпоксидным связующим (например, стеклотек­столит), или окись алюминия, как указано в ТУ на изделия кон­кретных типов.
Расстояние между отдельными чип-резисторами не должно быть меньше наибольшего размера чип-резистора.

РАЗДЕЛ III. ПОРЯДОК СЕРТИФИКАЦИИ ИЗДЕЛИЙ

3. ПОРЯДОК СЕРТИФИКАЦИИ ИЗДЕЛИЙ

3.1. Конструктивно-подобные изделия
Чип-резисторы считаются конструктивно-подобными, если они изготовлены по аналогичной технологии из аналогичных материи- лов, имеют одинаковые номинальные размеры, но разные значе­ния сопротивления и температурные характеристики.
3.2. Утверждение соответствия
Методики испытаний на утверждение соответствия приведены в п. 3.4 ГОСТ 28608. Программа испытаний на утверждение соот­ветствия, составленная на основе испытаний по партиям и перио­дических испытаний, приведена.в п. 3.3 настоящих ТУ. Методика испытаний