ГОСТ 27694-88
Цей міждержавний стандарт встановлює методи вимірювання електричних параметрів інтегральних підсилювачів низької, проміжної та високої частоти. Документ регулює вимоги до точності вимірювальної апаратури, режимів живлення та кліматичних умов під час випробувань електронних компонентів.
Забезпечити контроль похибки джерел живлення (±5%) та стабільності напруги (±1-2%) для запобігання пошкодженню мікросхем під час тестів. Проводити вимірювання суворо в нормальних кліматичних умовах або згідно з ТУ, щоб уникнути некоректних даних та аварійних режимів роботи.
Скачать документ
Формат .docx · доступно зарегистрированным пользователям
ПРОМЕЖУТОЧНОЙ и высокой
Издание официальное
Москва
Микросхемы интегральные
Методы измерения электрических параметров
Integrated circuits. Low-, intermediate- and high-frequency amplifiers.
Methods of measuring electric parameters
ОКП 62 3100
Дата введения 01.01.90
Настоящий стандарт распространяется на усилители низкой, промежуточной и высокой частоты (далее — микросхемы) и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров.
Термины и определения — по ГОСТ 19480.
Соответствие настоящего стандарта СТ СЭВ 1622—79 и СТ СЭВ 3411—81 приведено в приложении 1.
1.1. Условия и режим измерения
1.1.1. Электрические параметры следует измерять в нормальных климатических условиях по ГОСТ 20.57.406 или в условиях, установленных в стандартах или технических условиях (далее — ТУ) на микросхемы конкретных типов.
1.1.2. Режимы измерений электрических параметров микросхем должны соответствовать установленным в стандартах или ТУ на микросхемы конкретных типов.
1.1.3. Погрешность установления и поддержания параметров режима питания микросхем при измерении должна находиться в пределах ±5 %. Нестабильность источников питания, вызванная изменением напряжения сети и температурой окружающей среды, должна быть в пределах ±1 % для источников постоянного тока и ±2 % — для источников переменного и импульсного токов.
1.1.4. Электрические параметры микросхем измеряют в установившемся статическом, динамическом и тепловом режимах работы. Время между отдельными измерениями должно быть минимальным.
1.1.5. Во время проведения измерений предельное отклонение установленной температуры окружающей среды должно быть в пределах ±2 °С.
1.1.6. Границы интервала погрешности методов измерения должны находиться в пределах:
±10 % — для измерения в статическом режиме;
±20 % » » » динамическом »
1.2. Аппаратура
1.2.1. Средства измерения должны соответствовать требованиям ГОСТ 22261, а также требованиям, установленным в настоящем стандарте.
(Измененная редакция, Изм. № 2).
Перепечатка воспрещена
© Издательство стандартов, 1988 © ИПК Издательство стандартов, 1999 Переиздание с Изменениями
1.2.2. Частотный диапазон приборов должен соответствовать частотному диапазону измеряемых микросхем или быть шире. При необходимости требования к частотному диапазону приборов должны быть указаны в методах измерения конкретных параметров микросхем.
1.2.3. В измерительных установках места подключения измерительных приборов для контроля параметров режима могут отличаться от указанных на структурных схемах. При этом погрешность установления и поддержания режимов не должна выходить за установленные пределы.
1.2.4. В измерительных установках приборы для измерения параметров режима могут отсутствовать, если обеспечена требуемая точность установления и поддержания режима. Допускается применять в измерительных установках дополнительные измерительные приборы и сигнальные устройства. При этом погрешность измерения параметров микросхем не должна выходить за установленные пределы.
1.2.5. Полное входное сопротивление измерительных приборов должно превышать полное сопротивление микросхем между точками их подключения не менее чем в 100 раз или должно быть учтено йри определении значения нагрузки или погрешности измерения.
1.2.6. Резисторы, значение сопротивления которых влияет на результат измерений, должны иметь допуск не более 1 %. Конденсаторы, значение емкости которых влияет на результат измерений, должны иметь допуск не более 5 %.
1.2.7. Для защиты микросхем от перегрузок, возникающих под действием переходных процессов, статического электричества и паразитного самовозбуждения, измерительные установки должны быть снабжены устройствами защиты, исключающими возможность превышения предельно допустимых электрических режимов, установленных в ТУ на микросхемы конкретных типов.
Применение защитных устройств не должно приводить к увеличению погрешности измерений.
1.2.8. Характер и значение нагрузки, схема подключения нагрузки должны соответствовать установленным в ТУ на микросхемы конкретных типов. Допустимое отклонение сопротивления нагрузки не должно превышать 1 %.
1.2.9. Характер и значение элементов измерительной схемы (схемы включения микросхемы) должны соответствовать установленным в ТУ на микросхемы конкретных типов.
1.2.10. Контактирующие устройства измерительных установок должны обеспечивать надежное электрическое подключение микросхем, исключающее механическое повреждение выводов.
1.2.11. При измерениях электрических параметров микросхем на высокой частоте влияние реактивных составляющих элементов (резисторов, конденсаторов, монтажных проводов, кабелей, контактирующих устройств, переключателей и т. п.) должно быть таким, чтобы оно практически не сказывалось на погрешности измерения параметров микросхем или должно быть учтено при расчете показателей точности измерений.
1.3. Требования безопасности
1.3.1. Измерение электрических параметров микросхем относится к работам по управлению электроустановками с напряжением до 1000 В.
1.3.2. Измерительные установки при эксплуатации должны соответствовать требованиям ГОСТ 22261, ГОСТ 12.1.019, ГОСТ 12.1.030, ГОСТ 12.2.003 и ГОСТ 12.3.019.
1.3.3. Силовые трансформаторы измерительных установок должны соответствовать требованиям ГОСТ 12.2.007.2.
1.3.4. К измерениям электрических параметров микросхем допускаются операторы, прошедшие специальную подготовку и имеющие допуск к указанным работам.
1.3.5. В целях обеспечения безопасности труда при выполнении измерений электрических параметров микросхем необходимо предусмотреть:
• защиту изоляции наружной электропроводки измерительных установок от механических, химических и термических повреждений;
• наличие и надежность заземления элементов схемы установок;
• защиту контактируюущих приспособлений для подключения микросхем, исключающую возможность прикасания оператора к токоведущим частям установок.
2.1. Для микросхем без схемы управления измерение диапазона автоматической регулировки усиления по напряжению (далее — АРУ) проводят по методу 1, для микросхем со схемой управления — по методу 2.
2.2. Метод 1
2.2.1. Аппаратура
2.2.1.1. Измерения проводят на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 1.
(Измененная редакция, Изм. № 2).
2.2.1.2. Генератор сигналов должен обеспечивать установление и поддержание напряжения на входе микросхемы с погрешностью в пределах ±3%. Погрешность установления частоты должна быть в пределах ±1 %. Коэффициент гармоник должен быть в пределах ±5 %.
2.2.1.3. Погрешность измерителей переменного напряжения должна быть в пределах ±5 %.
2.2.2. Подготовка и проведение измерений *
2.2.2.1. Устанавливают напряжение питания микросхемы, значение которого установлено в ТУ на микросхемы конкретных типов.
2.2.2.2. На вход микросхемы подают сигналы Un и Ц2, соответствующие минимальному и максимальному значению напряжения. Значение напряжения, частота (количество контролируемых точек) и условия выбора сигналов Ui{, Un установлены в ТУ на микросхемы конкретных типов.
2.2.2.3. Измеряют выходные напряжения f701 и UQ2 микросхемы.
2.2.3. Обработка результатов
Диапазон АРУ (AGC) вычисляют по формуле
AGC-
где Ац тах — максимальный коэффициент усиления напряжения микросхемы, определяемый по формуле
(2)
Лу min — минимальный коэффициент усиления напряжения микросхемы, определяемый по формуле
А -и°2 ^Umin-f/I2 .
2.2.4. Показатели точности измерений
Показатели точности измерений диапазона АРУ должны соответствовать указанным в ТУ на микросхемы конкретных типов с установленной вероятностью 0,95.
Погрешность измерения диапазона АРУ должна находиться в интервале ±20 %.
Границы интервала, в котором должна находиться погрешность измерения, определяют по формулам, приведенным в приложении 2.
(Измененная редакция, Изм. № 2).
2.3. Метод 2
2.3.1. Аппаратура
2.3.1.1. Измерения проводят на измерительной установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 2.
(Измененная редакция, Изм. № 2).
2.3.1.2. Требования к основным элементам измерительной установки должны соответствовать пп. 2.2.1.2 и 2.2.1.3.
2.3.1.3. Погрешность измерителя постоянного напряжения должна находиться в пределах ±1 %.
2.3.2. Подготовка и проведение измерений
2.3.2.1. Устанавливают напряжение питания микросхемы, значение которого должно соответствовать установленным в ТУ на микросхемы конкретных типов.
2.3.2.2. От источника постоянного напряжения подают напряжение АРУ ^AGC1, значение которого должно соответствовать максимальному коэффициенту усиления и должно быть указано в ТУ на микросхемы конкретных типов.
2.3.2.3. На вход микросхемы подают сигнал Uw значение напряжения и частота (количество контролируемых точек) которого должны соответствовать установленным в ТУ на микросхемы конкретных типов.
(Измененная редакция, Изм. № 2).
2.3.2.4. Измеряют выходное напряжение микросхемы f/Q1.
2.3.2.5. От источника постоянного напряжения подают напряжения АРУ ^AGC2, значение которого соответствует минимальному коэффициенту усиления и должно быть указано в ТУ на микросхемы конкретных типов, и подают сигнал на вход микросхемы.
(Измененная редакция, Изм. № 2).
2.3.2.6. Измеряют выходное напряжение микросхемы UQr
2.3.3. Обработка результатов
Обработку результатов проводят в соответствии с требованиями п. 2.2.3
2.3.4. Показатели точности измерений
Показатели точности измерений диапазона АРУ определяют в соответствии с требованиями п. 2.2.4.
(Измененная редакция, Изм. № 2).
3.1. Аппаратура
3.1.1. Измерения проводят на установке, электрическая структурная схема которой приведена на черт. 1.
3.1.2. Требования к основным элементам измерительной установки должн
