Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы

СОЮЗА ССР

ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

Часть 10. ОБЩИЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ УСЛОВИЯ

НА ДИСКРЕТНЫЕ ПРИБОРЫ И

ИНТЕГРАЛЬНЫЕ МИКРОСХЕМЫ

ГОСТ 28623-90

(МЭК 747-10—84)
Издание официальное

ПО УПРАВЛЕНИЮ КАЧЕСТВОМ ПРОДУКЦИИ И СТАНДАРТАМ

Москва

ПРЕДИСЛОВИЕ

1. Официальные решения или соглашения МЭК по техническим во-
просам, подготовленные техническими комитетами, в которых представ­
лены все заинтересованные национальные комитеты, выражают с воз­можной точностью международную согласованную точку зрения по рас­
сматриваемым вопросам.
2. Эти решения представляют собой рекомендации для международ­
ного пользования и в этом виде принимаются национальными комите­тами.
3. В целях содействия международной унификации МЭК выражает
нежелание, чтобы национальные комитеты приняли за основу настоящий
стандарт МЭК в качестве своих национальных стандартов, насколько это
позволяют условия каждой страны. Любое расхождение со стандартами МЭК должно быть четко указано в соответствующих национальных стан*
дартах.

ВВЕДЕНИЕ

Настоящий стандарт подготовлен Техническим комитетом МЭК 47 «Полупроводниковые приборы».
Настоящий стандарт устанавливает общие технические усло­вия полупроводниковых приборов: дискретных приборов и инте­гральных микросхем (исключая оптоэлектронные приборы и гиб­ридные микросхемы) в рамках Системы сертификации изделий электронной техники МЭК (МСС ИЭТ),
Текст настоящего стандарта основан на следующих докумен­тах:

По правилу двух месяцев Отчет о голосовании
■Г. ■- " ,■■■ — — - — Ы—■■ ■ ■ Г7=
47 (Центральное бюро) 826 47 (Центральное бюро) 867
47А (Центральное бюро) 112 47А (Центральное бюро) 119
Более подробную информацию можно найти в отчетах о голо­совании, указанных выше.
Обозначение QC и номер, указанные на обложке данной Пуб­ликации, являются номером технических условий в Системе сер­тификации изделий электронной техники МЭК (МСС ИЭТ).

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР

ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

Часть 10. Общие технические условия на
дискретные приборы и интегральные микросхемы
Semiconductor devices.
Part 10. Generic specification for
discrete devices and integrated circuits

ОКСТУ 6331, 6341

Дата введения 01.01.91

1. ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ

Настоящий стандарт устанавливает общие технические условия (далее — ТУ) на полупроводниковые приборы (далее — приборы), дискретные приборы и интегральные микросхемы, включая много-
кристалльные микросхемы, за исключении оптоэлектронных при-
Настоящий стандарт устанавливает общий порядок сертифи­
кации, применяемый в Системе сертификации изделий электрон­ной техники (далее — НЭТ), а также общие принципы методов
измерения электрических характеристик, климатических и меха­нических испытаний, испытаний на срок службы.
Л р и меч а ни е. Настоящий стандарт должен применяться совместно с групповыми ТУ, ТУ на семейство и стандартами «форма ТУ», если таковые .имеются, на приборы конкретного типа или типов.

2. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

2.1. Порядок приоритетности нормативно-тех­нических документов (далее — НТД)
При наличии в НТД противоречивых требований устанавли­вается следующий порядок приоритетности:
1) ТУ на приборы конкретных типов;
2) ТУ на семейство приборов, если таковые имеются;
3) форма ТУ на приборы конкретных типов;
4) групповые ТУ;
5) общие ТУ;
6) основополагающие ТУ;
7) правила процедуры системы сертификации ИЭТ МЭК;
Издание официальное

8) любой другой международный НТД (например, СТ МЭК)? на который дается ссылка;
9) национальный НТД.
Аналогичный приоритет должен быть установлен для соответ­ствующих национальных НТД.
2.2. Используемые документы
При разработке ТУ на изделия конкретного типа следует ука­зывать применяемые документы:

Единицы физических величин, термины, графические и бук­венные обозначения должны соответствовать следующим НТД:
ИСО 1000;
МЭК 27;
МЭК 50;
МЭК 617.
Любые дополнительные единицы физических величин, термины и обозначения, относящиеся к одному из полупроводниковых при­боров, на которые распространяются настоящие общие ТУ, долж­ны соответствовать МЭК или ИСО (указанным в п. 2.2. настоя­щего стандарта) или же могут быть образованы (построены) в соответствии с принципами, изложенными в указанных выше НТД.
2.4. Пред по ч т и те льные значения
Предпочтительные значения напряжений, токов и температур для измерения характеристик, испытаний и рабочих режимов уста­новлены в МЭК 747-11, МЭК 748-1*.
2;5. Маркировка
а) Если позволяет площадь, то на прибор должны быть нане­сены следующие данные:
1) обозначение выводов (п. 2.5.1);
2) обозначение типа прибора (п. 2.5.2.), категории качества (п. 2.6) и, при необходимости, обозначение программы отбрако­вочных испытаний (п. 2.7);
3) наименование изготовителя (сокращенное или товарный знак) и, при необходимости, код завода-изготовителя (п. 2.5.3);
4) код контролируемой партии (п. 2.5.4);
5) знак соответствия, если не используется сертификат соот­ветствия;
6) знаки предосторожности при обращении с прибором (при необходимости).
Если площадь поверхности прибора не позволяет нанести всю маркировку полностью, то в ТУ на приборы конкретных типов должна быть приведена сокращенная маркировка в соот­ветствии с приведенной выше последовательностью.
б) На первичной упаковке, в которую непосредственно упако­ван поставляемый прибор, должны быть нанесены следующие данные:
1) вся информация по п. 2.5 (перечисление а), за исключением обозначения выводов;
2) обозначение ТУ на приборы конкретных типов;
3) указания на предосторожность при обращении, например, предупредительные знаки.
1.1.1. Обозначение выводов по МЭК 747-1 должно быть при­ведено в ТУ на приборы конкретных типов со ссылкой на тип корпуса или габаритный чертеж.
1.1.2. Если в состав маркировки входит тип прибора, то он преимущественно обозначается буквенно-цифровым или цветовым кодом, что указывается в ТУ на приборы конкретных типов. Цве­товые коды могут быть указаны в групповых ТУ.
1.1.3. Обозначение изготовителя или товарного знака
Если по наименованию или товарному знаку изготовителя не­возможно установить конкретный завод, то в состав маркировки должно быть включено кодовое обозначение завода-изготовителя.
1.1.4. Код контролируемой партии указывается в соответствии со стандартом ИСО 2015, в котором двум цифрам обозначения недели предшествуют две цифры обозначения года (например, 8345=45-я неделя 1983 г.).
Если место для маркировки на приборе ограничено, то пер­вая цифра года опускается (например, 345=45-я неделя 1983 г.), что устанавливается в ТУ на приборы конкретных типов. Код контролируемой партии обозначает дату представления приборов на контроль. Если в течение недели контролю подвергаются не­сколько партий приборов, то вводится дополнительное обозначе­ние в виде буквы для каждой последующей партии.
2.6. Категории качества сертифици р о ванных приборов
Стандарт устанавливает 3 категории качества сертифицирован­ных приборов. Приборы группируют в контролируемые партии, промаркированные с учетом даты выпуска и проверенные на со­ответствие установленной категории качества. Приемлемый уро­вень качества AQL (Acceptable Quality Level) или допустимый процент дефектных приборов партии LTPD (Lot Tolerance Percent Defective), относящиеся к одной и той же группе испытаний, могут быть различными для каждой категории и должны указываться в ТУ на приборы конкретных типов.
К категориям предъявляются следующие минимальные тре­бования:
Категория I — тип приборов соответствует квалификационным
требованиям категории II или III. Каждая партия проходит контроль по группе А, включающий проверку работоспособности. Каждые три месяца одна партия проверяется на соответствие тре­бованиям к контролю паяемости. Ежегодно одна партия проверя­ется на соответствие требованиям к контролю по группам В и С.
Категория II — каждая партия подвергается испытаниям по группам А и В при контроле по партиям и испытаниям по груп­пе С при периодическом контроле.
Категория III — каждая партия подвергается 100%-ным отбра­ковочным испытаниям и испытаниям по группам А и В. Испыта­ния по группе С проводятся периодически.
В групповых ТУ устанавливаются минимальные требования для каждой категории качества. ТУ на приборы , конкретных ти­пов могут содержать дополнительные требования включая отбра­ковочные испытания, в дополнение к требованиям, установлен­ным в общие ТУ, групповые ТУ или формы ТУ на приборы кон­кретных типов.
2.7. Отбра ко вочные испытания
Отбраковочное испытание — это проверка или испытание, ко­торому подвергаются все приборы в партии. ,
Если отбраковочные испытания предусмотрены ТУ на приборы конкретных типов, то они проводятся на всех приборах партии
по одной из программ, установленных в соответствующих группо­вых ТУ. Дефектные приборы изымаются.
Если установленные групповыми ТУ программы отбраковоч­ных испытаний не согласуются или находятся в противоречии с известными механизмами отказов, то применяются любые иные программы отбраковочных испытаний, не установленные в соот­ветствующих групповых ТУ.
Если часть отбраковочных испытаний, установленных в соот­ветствующих групповых ТУ, является составной частью произ­водственного процесса с указанной программой, то ее повторно можно не проводить.
В настоящем стандарте электротермотренировка определяется как тепловое и электрическое воздействие, которому подвергают­ся все приборы партии в течение определенного периода времени для выявления и изъятия потенциально ненадежных приборов.

3. ПОРЯДОК СЕРТИФИКАЦИИ ПРИБОРОВ

Сертификация приборов представляет собой порядок утверж­дения соответствия приборов ТУ согласно п. 3.5 с последующим контролем качества на основе испытаний по партиям (в том чис­ле и отбраковочные испытания, при необходимости) и периодиче­ских испытаний, как указывается в ТУ на приборы конкретных типов.
Сертификационные испытания подразделяют на испытания по группам А, В и С, которые проводят по партиям (А и В) или периодически (С) согласно п. 2.6. В некоторых случаях могут проводиться испытания по группе D, например при испытании на утверждение соответствия приборов ТУ.
3.1. Требования к испытаниям на утверждение соответс